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中國環(huán)境試驗標準列表
日期：2025-10-10 09:19
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摘要：
標 準 編 號 | 標 準 名 稱 |
GB10586-89 | 濕熱試驗箱技術(shù)條件 |
GB10587-89 | 鹽霧試驗箱技術(shù)條件 |
GB10588-89 | 長霉試驗箱技術(shù)條件 |
GB10589-89 | 低溫試驗箱技術(shù)條件 |
GB10590-89 | 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 |
GB10591-89 | 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 |
GB10592-89 | 高、低溫試驗箱技術(shù)條件 |
GB11158-89 | 高溫試驗箱技術(shù)條件 |
GB11159-89 | 低氣壓試驗箱技術(shù)條件 |
GB/T5170.1-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則 |
GB/T5170.2-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 |
GB/T5170.5-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備 |
GB/T5170.8-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備 |
GB/T5170.9-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗設(shè)備 |
GB/T5170.10-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備 |
GB/T5170.11-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備 |
GB5170.13-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺 |
GB5170.14-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺 |
GB5170.15-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振 動（正弦）試驗用液壓振動臺 |
GB5170.16-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機 |
GB5170.17-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備 |
GB5170.18-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 |
GB5170.19-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備 |
GB5170.20-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備 |
GB2421-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則 |
GB/T2422-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語 |
GB2423.1-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法 |
GB2423.2-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法 |
GB/T2423.3-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法 |
GB/T2423.4-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法 |
GB/T2423.5-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊 |
GB/T2423.6-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞 |
GB/T2423.7-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第4部分：試驗方法 試驗Ec和導則：傾跌與翻倒 |
（主要用于設(shè)備樣品） | |
GB/T2423.8-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第5部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落 |
GB2423.9-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗方法 |
GB/T2423.10-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦） |
GB/T2423.11-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法以 試驗Fd：寬頻帶隨機振動—一般要求 |
GB/T2423.12-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda：寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性 |
GB/T2423.13-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb：寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性 |
GB/T2423.14-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc：寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性 |
GB/T2423.15-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度 |
GB/T2423.16-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉 |
GB/T2423.17-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法 |
GB2423.18-2000 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法（氯化鈉溶液） |
GB2423.19-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 |
GB2423.20-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗方法 |
GB2423.21-91 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法 |
GB2423.22-87 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法 |
GB/T2423.23-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q：密封 |
GB/T2423.24-1995 | 電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模似地面上的太陽輻射 |
GB/T2423.25-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗 |
GB/T2423.26-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗 |
GB2423.27-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法 |
GB2423.28-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T：錫焊試驗方法 |
GB2423.29-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件強度 |
GB2423.30-1999 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗方法 試驗XA和導則：在清洗劑中浸漬 |
GB2423.31-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法 |
GB2423.32-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法 |
GB2423.33-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗方法 |
GB2423.34-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法 |
GB2423.35-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動 |
（正弦）綜合試驗方法 | |
GB2423.36-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc：散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦） |
綜合試驗方法 | |
GB2423.37-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L：砂塵試驗方法 |
GB2423.38-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R：水試驗方法 |
GB2423.39-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee：彈跳試驗方法 |
GB/T2423.40-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx:：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 |
GB/T2423.41-94 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風壓試驗方法 |
GB/T2423.42-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法 |
GB/T2423.43-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、 |
碰撞（Eb）、 振動（Ec和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學試驗中的安裝要求和導則 | |
GB/T2423.44-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eg：撞擊 彈簧錘 |
GB/T2423.45-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序 |
GB/T2423.46-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘 |
GB/T2423.47-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fg：聲振 |
GB/T2423.48-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動—時間歷程法 |
GB/T2423.49-1997 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動—正弦拍頻法 |
GB2424.1-89 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則 |
GB/T2424.2-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導則 |
GB2424.9-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 長霉試驗導則 |
GB/T2424.10-93 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則 |
GB2424.11-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則 |
GB2424.12-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則 |
GB2424.13-81 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導則 |
GB/T2424.14-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 太陽輻射試驗導則 |
GB/T2424.15-92 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導則 |
GB/T2424.17-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 錫焊試驗導則 |
GB2424.18-82 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗導則 |
GB2424.19-84 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模 擬貯存影響的環(huán)境試驗導則 |
GB2424.20-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導則 |
GB2424.21-85 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導則 |
GB2424.22-86 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導則 |
GB2424.23-90 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導則 |
GB/T2424.24-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗導則 |
GB10593.1-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動 |
GB10593.2-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 鹽霧 |
GB10593.3-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納 |
GB11804-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語 |
GB4796-84 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴酷程度分級 |
GB4797.1-84 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度 |
GB4797.2-86 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海拔與氣壓、水深與水壓 |
GB4797.3-86 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物 |
GB4797.4-89 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽福射與溫度 |
GB/T4797.5-92 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風 |
GB/T4797.6-1995 | 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧 |
GB4798.1-86 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 貯存 |
GB/T4798.2-1996 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 運輸 |
GB4798.3-90 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 有氣候防護場所固定使用 |
GB4798.4-90 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 無氣候防護場所固定使用 |
GB4798.5-87 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 地面車輛使用 |
GB/T4798.6-1996 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 船用 |
GB4798.7-87 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用 |
GB/T4798.9-1997 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候 |
GB/T4798.10-91 | 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 導言 |
GB/T13952-92 | 移動式平臺及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級 |
GB/T16422.1/1996 | 塑料實驗室光源曝露試驗方法 **部分 通則 |
GB/T2951.1~2951.10-1997 | 電纜絕緣和護套料通用試驗方法 |
GB/T14597-93 | 電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件 |
GB11606.1~11606.17-89 | 分析儀器環(huán)境試驗方法 |
GB12085.1~12085.14-89 | 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 |
GB6999-86 | 環(huán)境試驗用相對濕度查算表 |
GB/T6031-1998 | 硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測定 |
GB/T17782-1999 | 硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗方法 |
GB9868-88 | 橡膠獲得高于或低于常溫試驗溫度通則 |
GB/T12831-91 | 硫化橡膠人工氣候（氙燈）老化試驗方法 |
GB/T12584-90 | 橡膠或塑料涂覆織物低溫沖擊試驗 |
GB/T14710-93 | 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗方法 |
GB14048.3-93 | 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備低壓開關(guān) 隔離器 隔離開關(guān)及熔斷器組合器 |
GB8747-87 | 氣象用玻璃液體溫度表 |
GB/T7020-86 | 中空玻璃測試方法 |
GB3100~3102-93 | 量和單位 |
GB3836.1-2000 | 爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備 第1部分：通用要求 |
GB3836.2-2000 | 爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備 第2部分：隔爆型"d' |
GB11605-89 | 濕度測量方法 |
GB/T4857.7-92 | 包裝、運輸包裝件 正弦頻振動試驗方法 |
GB/T4857.9-92 | 包裝、運輸包裝件噴淋試驗方法 |
GB/T4857.3-92 | 包裝運輸包裝件靜載荷堆碼試驗方法 |
GB/T5398-1999 | 大型運輸包裝件試驗方法 |
GB/T4857.5~4857.6-92 | 包裝、運輸包裝件 跌落試驗方法 滾動試驗方法 |
GB/T4857.2-92 | 包裝、運輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理 |
GB/T19000.2-1994 | 質(zhì)量管理和保證標準 **部分：GB／T19001，19002，19003 |
GB/T19004.2-1994 | 質(zhì)量管理和質(zhì)量體系表 第2部分：服務(wù)指南 |
GB/T19003-1994 | 質(zhì)量體系：終檢驗和試驗的質(zhì)量保證模式 |
GB/T19004.3 | 第三部分：流程性材料指南 |
GB/T19004.4-1994 | 質(zhì)量管理和質(zhì)量體系要素 第四部分：質(zhì)量改進指南 |
GB/T15497-1995 | 企業(yè)標準體系 技術(shù)標準體系的構(gòu)成和要求 |
GB/T15498-1995 | 企業(yè)標準體系 管理標準工作標準體系的構(gòu)成和要求 |
GB/T1.1-2000 | 標準化工作導則 第1部分：標準的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則 |
GB/T13017-1995 | 企業(yè)標準表編制指南 |
GB/T13264-91 | 不合格品率的小批計數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表 |
JB2678-80 | 電工產(chǎn)品高原使用環(huán)境條件 |
JB2853-80 | 電工產(chǎn)品、儀器儀表基本環(huán)境條件 |
JB3157-82 | 電工產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分級（氣候與化學環(huán)境因素部分） |
JB4160-85 | 電工產(chǎn)品的熱帶自然環(huán)境條件 |
JB4375-86 | 電工產(chǎn)品戶外、戶內(nèi)腐蝕場所使用環(huán)境條件 |
JB/T5520-91 | 干燥箱技術(shù)條件 |
JB/T5377-91 | 恒 溫水槽 技術(shù)條件 |
JB/T6862-93 | 溫濕度計 |
JB/T5376-91 | 低溫恒溫槽技術(shù)條件 |
JB/T6823-93 | 生物人工氣候箱技術(shù)條件 |
JB/T5219-91 | 工業(yè)熱電偶型式基本參數(shù)及尺寸 |
JB/T5405-91 | 薄膜鍵盤技術(shù)條件 |
JB/T5451-91 | 微動開關(guān)通用技術(shù)條件 |
JB/T5582-91 | 鎧裝熱電偶 |
JB/T5583-91 | 工業(yè)熱阻型式基本參數(shù)及尺寸 |
JB/T6170-92 | 壓力傳感器通用技術(shù)條件 |
JB/T6174-92 | 儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范 |
JB/T6239.1~.5-92 | 工業(yè)自動化儀表通用試驗方法 |
JB1012-91 | YY系列單相異步電動機技術(shù)條件 |
JB/T8514.1~8514.3-1997 | 企業(yè)標準化工作導則 |
GJB150.1-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 總則 |
GJB150.2-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗 |
GJB150.3-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗 |
GJB150.4-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗 |
GJB150.5-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗 |
GJB150.6-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度—高度試驗 |
GJB150.7-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 太陽輻射試驗 |
GJB150.8-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗 |
GJB150.9-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗 |
GJB150.10-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 霉菌試驗 |
GJB150.11-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗 |
GJB150.12-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 砂塵試驗 |
GJB150.13-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 爆炸性大氣試驗 |
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GJB150.15-86 | **設(shè)備環(huán)境試驗方法 加速度試驗 |
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